Анализатор тонколистовых материалов методом профилометрии

Анализатор тонколистовых материалов - это лазерный профилометр, который используется в составе оборудования неразрушающего контроля (дефектоскопов) и одновременно является средством измерения расстояний. Графическое изображение профиля поверхности, которое отснято в процессе профилометрии, называется профилограммой.

Все полученные данные применяются для расчета необходимых параметров и позволяют производить как качественную, так и количественную оценку шероховатости исследуемой поверхности. Для наглядного представления о топографии поверхности с определенным шагом и последовательно расположенных в трехмерной системе координат снимается множество профилограмм.


Регистрация профилограмм и получение трехмерного изображения поверхностей твердых тел может выполнятся контактным или бесконтактным способом, приборами профилометрами или профилографами. В приборах контактного метода работы копирование профиля выполняется перемещением иглы по шероховатой исследуемой поверхности. К приборам бесконтактного метода работы относятся различные оптические и растровые электронные микроскопы, а также приборы, которые используют для сканирования поверхности лазерное излучение.

К примеру, измерение толщины листового материала, который используется для производства кабеля ППГнг HF не содержащего галогенов, традиционным контактным способом нередко представляет собой технологическую проблему. Ведь если материал имеет невысокую прочность он разрушается и меняет геометрические размеры от давления контактов самого анализатора. Поэтому в настоящее время актуально внедрение современных методик контроля, которые одновременно будут высокоточными и неразрушающими, а также пригодными для автоматизации процесса измерений.


В системах оценки шероховатости поверхностей лазерное излучение применяется в качестве оптического зонда, тем самым позволяя бесконтактно оценить микротопографию обработанной поверхности. Лазерный профилометр гарантирует высокую точность измерения в сравнении с традиционными профилографами, которые основаны на механическом «ощупывании» поверхности. В большинстве случаев оценка шероховатости поверхности выполняется анализом изменения интенсивности зоны отраженного светового поля, которая невозмущена влиянием дифракционных максимумов и зеркальной составляющей.